产品中心
当前位置:首页 >> 产品中心 >> 视觉检测设备
适用于半导体芯片支架生产过程中的外观缺陷检测检测项目:连脚、披锋、沙孔、过蚀、溢银、漏银、刮花/划伤、污渍、氧化、黑点、异物 、菲林胶、铜渍、漏镀银、银黄、银偏位等设备配置:上视+下视(可根据检测项目增减检测工位)检测范围:21-100mm检测速度:8m/min-12m/min检测精度:0.02mm
产品分类
视觉检测设备
非标自动化设备
光学筛选机
氢能产业配套
自动化线体
冲压周边
适用于半导体芯片支架生产过程中的外观缺陷检测
检测项目:连脚、披锋、沙孔、过蚀、溢银、漏银、刮花/划伤、污渍、氧化、黑点、异物 、菲林胶、铜渍、漏镀银、银黄、银偏位等
设备配置:上视+下视(可根据检测项目增减检测工位)
软件系统:泰迪光学影像系统
电源电压:220V 50H
额定功率:500KW
冲压卷式、冲压片式、蚀刻片式、塑封片式引线框架
上一篇:SMT 3D光学检测设备
下一篇:机器人视觉检测设备
扫一扫,添加微信
热线电话:
服务热线: 17798696936